Polymere

Für die hochaufgelöste Abbildung und Analytik biologischer Proben ist es oftmals notwendig, die Probe im nativen Zustand zu untersuchen. Dank des patentierten JEOL Aqua Covers können selbst feuchte oder hydratisierte Proben in einem Rasterelektronenmikroskop bei niedrigem Druck abgebildet werden.

Abbildung eines Wassertropfens auf einer Rosenblatt-Oberfläche

Bildquelle: JEOL Ltd. (Präsentation Aqua Cover)

Nanopartikel gewinnen aufgrund ihrer einzigartigen Eigenschaften sowohl für die Industrie als auch für die universitäre Forschung immer mehr an Bedeutung. Ihre chemischen und physikalischen Eigenschaften hängen stark von ihrer Größe, Form und Zusammensetzung ab. Mit den Hochleistungsinstrumenten von JEOL lassen sich diese Eigenschaften bis in den Sub-Nanometerbereich hinein zuverlässig analysieren.

Elektronenmikroskopische Aufnahme eines Eisenoxid-Nanopartikels

Bildquelle: JEOL (Germany) GmbH, Universität Bielefeld Frau Dr. Ennen / Applikationsarbeit F200

Nanopartikel gewinnen aufgrund ihrer einzigartigen Eigenschaften sowohl für die Industrie als auch für die universitäre Forschung immer mehr an Bedeutung. Ihre chemischen und physikalischen Eigenschaften hängen stark von ihrer Größe, Form und Zusammensetzung ab. Mit den Hochleistungsinstrumenten von JEOL lassen sich diese Eigenschaften bis in den Sub-Nanometerbereich hinein zuverlässig analysieren.

Elementverteilung eines Core-Shell-Nanopartikels. Der innere Gold-Kern (rot) ist mit einer 0,6nm dünnen Palladium-Schicht (grün) überzogen

Bildquelle: JEOL Ltd. / Präsentation GrandARM

Papier als Massenprodukt kann kostengünstig produziert werden, wenn das Verhältnis von Fasern und Füllstoffen optimiert wird ohne die mechanischen und drucktechnischen Eigenschaften zu verändern. Hierzu ist es entscheidend, während der Papierentwicklung wie auch produktionsbegleitend, die Verteilung von Faser- und Füllstoff im Papier zu untersuchen. Die äußerst robusten Analytiksysteme von JEOL können im anspruchsvollen Routinebetrieb zur artefaktfreien Präparation wie auch zur präzisen morphologischen und chemischen Charakterisierung von Zellstoffen eingesetzt werden.

Planschnitt durch ein Blatt Papier

Bildquelle: JEOL (Germany) GmbH

Die Oberfläche von Lotusblättern kann als Modellsystem für selbstreinigende Oberflächen dienen. Die genaue Charakterisierung dieser Oberflächen ist essentiell um sie nachbauen zu können. Die Oberfläche von Lotusblättern besteht aus kleinen Wachsröhren, die während der Untersuchung mittels Elektronenstrahl leicht zerstört werden können. Hierzu offeriert JEOL maßgeschneiderte Lösungen mit welchen die Proben kontrolliert thermisch stabilisiert werden und somit eine Zerstörung durch die Beobachtung ausgeschlossen werden kann.

Oberfläche einen Lotusblattes. Der Durchmesser der Wachsröhren beträgt ca 50 nm

Bildquelle: JEOL (Germany) GmbH

Moderne Lackierungen sind in der Regel Mehrschichtsysteme. Bei makroskopisch sichtbaren Lackfehlern ist es von großer Bedeutung, jene Schicht zu ermitteln, in welcher die Ursache des Fehlers liegt. Die Präparationssysteme von JEOL ermöglichen die einfache und reproduzierbare Herstellung von artefaktfreien Querschnitten.

Querschnitt einer lackierten Metalloberfläche. Durchmesser des Einschlusses ca. 10µm

Bildquelle: JEOL Ltd., Broschüre CP

Fasern werden in vielen Industriezweigen eingesetzt, bspw. in der Textilverarbeitung oder als Konstruktionswerkstoff im Maschinenbau. Ihre strukturellen Eigenschaften lassen sich beispielsweise anhand eines Faserquerschnittes studieren. Hierfür bietet JEOL eine etablierte und leistungsfähige Komplettlösung zur einfachen, artefaktfreien Präparation und höchstauflösenden Abbildung und Analytik.

REM-Abbildung eines Querschnitts durch ein Faserbündel

Bildquelle: JEOL Ltd., Broschüre Ion Slicer

Neuartige Werkstoffe werden immer häufiger hinsichtlich Ihres Einsatzgebietes maßgeschneidert hergestellt. Diese zielgerichteten Modifikationen erstrecken sich häufig bis zur Nanoskala. Die Charakterisierung  solch empfindlicher Oberflächen erfordert höchste Ansprüche an das bildgebende Instrument. Die hochauflösenden Rasterelektronenmikroskope von JEOL lassen sich routinemäßig in diesem Grenzbereich betreiben.

Oberflächenabbildung einer Zeolithverbindung

Bildquelle: JEOL Ltd.

Viele Materialsysteme werden heutzutage funktionalisiert. Maßgeschneiderte Eigenschaften wie z.B. Abriebfestigkeit, Farbe oder chemische Widerstandsfähigkeit werden durch Ausbildung von Mehrschichtsystemen auf Substraten erreicht. Die von JEOL hergestellten Systeme erlauben es auf einfache Weise diese Schichtsysteme zu Untersuchen. Hierbei bietet JEOL Komplettlösungen von der artefaktfreie Präparation bis hin zur automatisierten und reproduzierbaren Extraktion relevanter Parameter wie Schichtdicke oder -rauheit.

Schichtsystem auf metallischem Substrat

Bildquelle: JEOL (Germany) GmbH