Vorführ- und Gebrauchtgeräte
Nachfolgend aufgeführt finden Sie eine Auswahl von JEOL Vorführ- und Gebrauchtgeräten.
Bei Fragen zu den einzelnen Geräten sowie deren Preisen stehen wir Ihnen jederzeit gerne zur Verfügung.
JNM-ECZS400 Spektrometer
Die kompakte Effizienz-Klasse der NMR-Instrumente mit
400Hz.
Merkmale
Mit über 60 Jahren Erfahrung ist JEOL der älteste NMR-Hersteller weltweit. JEOL Instrumente zählen zu den schnellsten, stabilsten, zuverlässigsten und robustesten Geräten, die es auf dem Markt gibt. Mit dem JNM-ECZS400 bietet JEOL nicht nur das kompakteste NMR-Spektrometer der Welt, sondern auch ein preisgekröntes*.
Das Gerät, inkl. Konsole und Magnet, mit Royal HFX Probenkopf und Autosampler für 30 Proben ist aktuell zu einem Vorzugspreis zu erwerben.
- Hochleistungsspektrometer in kompaktem, preisgekröntem Design
- valide Analyse von Fest- und Flüssigstoffen
- 43% reduzierte Grundfläche des Haupt-Chassis im Vergleich zu
ähnlichen Instrumenten
- hochempfindliche Autotunesonden
- State-of-the-Art supraleitender Magnet mit geringsten Streufeldern und Driftraten
- hochzuverlässige Hardware + moderne Software + erstklassiger Service = Ihr optimierter Workflow
Bei Interesse oder weiteren Fragen zu einem möglichen
Einsatz in Ihrem Labor wenden Sie sich bitte an sales@jeol.de oder nutzen Sie unser Kontaktformular. Gern bieten wir zu unseren
Gebrauchtgeräten auch den passenden Service-Vertrag an. Wir freuen uns auf Ihre
Anfrage!
JSM-IT200 Rasterelektronenmikroskop
Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs.
Merkmale
Das InTouchScope JSM-IT200 zeichnet sich durch alle Funktionen eines voll ausgestatteten Rasterelektronenmikroskops mit Wolframkathode und integrierter EDS-Analyse in kompaktem, ergonomischem und intuitivem Design aus. Die Installation erfordert weder Kühlwasser- noch Gasanschluss.
- Höchste Bildauflösung im HV/LV/SE/BSE-Modus
- Zeromag-Modus für den intuitiven Übergang zwischen lichtoptischem und REM-Bild
- Chemische Analytik durch optionales, integriertes EDS mit Live-Analyse
- Multi-Touch Benutzeroberfläche und Remote Control
- Zahlreiche Automatik-Funktionen und vorgefertigte Rezepte für unterschiedliche Probentypen
- Mehrkanal-Live-Bild und Videoaufnahme gleichzeitig möglich
- Schnelle Probennavigation bei 5x – 300.000x Vergrößerung
- Smile View Premium Offline-Software mit Bildschärfung, Bildmontage, Positionsausrichtung und Überlagerung
- Kompakte Stellfläche: ca. 0,5m²
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JSM-IT700HR Rasterelektronenmikroskop
Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs wurde das JSM-IT700HR entwickelt für hochaufgelöste Abbildung und schnelle Analytik bei hoher Sensitivität und räumlicher Auflösung.
Merkmale
Steigern Sie Ihre Produktivität durch die vollintegrierte Softwarelösung – nonstop von der Probennavigation über die Analyse bis zur Berichterstellung.
- High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle für hochauflösende Abbildung und Analytik "Zeromag"-Funktion: Probennavigation einfacher denn je.
- Live EDX ermöglicht erstmal Elementanalyse in Echtzeit parallel zur Bildaufnahme
- Integriertes Datenmanagement: Einfachste Berichterstattung aller aufgenommenen Daten.
- Einfache und effiziente Bedienung - vom Probeneinbau bis zur Bildaufnahme.
- Die neu entwickelte „Auto Beam Alignment“-Funktion sorgt stets für ideale elektronenoptische Bedingungen.
- Große Probenbühne für Proben aller Art
- Kompakte Bauweise mit kleiner Stellfläche
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JSM-IT800SHL Rasterelektronenmikroskop
Das Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop JSM-IT800SHL vereint in einzigartiger Weise höchste Auflösung und Vielseitigkeit mit intuitivem Handling und weitgehender Automatisierung.
Merkmale
Das JSM-IT800SHL deckt einen weiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht einen unkomplizierten Einstieg in die Welt der hochauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie.
- Höchstauflösende Bildgebung und Analyse selbst bei magnetischen oder isolierenden Materialien durch Einsatz einer
Super-Hybrid-Objektivlinse (SHL). - Extrem schnelle Analytik durch hohen Probenstrom ≥ 300 nA.
- Höchste Stabilität und einen kontinuierlich regelbaren Strom durch die In-lens Schottky Plus Feldemissions-Elektronenquelle und die Doppel-Kondensorlinsen-System.
- Schnelle Übergänge zwischen unterschiedlichen Betriebszuständen durch die neue "NeoEngine" und der verbesserten Autofunktionen.
- Extreme Schärfentiefe und verzerrungsfreie Abbildung großer Probenstrukturen durch einzigartige Linsenoptik.
- Schnelle und sichere Wechsel großer Proben durch die Probenschleuse.
- Stufenloser Übergangzwischen lichtoptischer und REM-Abbildung für einfachste Probennavigation durch
die JEOL ZeroMag-Funktion. - Neue Rückstreuelektronendetektoren ermöglichen die maßgeschneiderte, applikationsoptimierte Konfiguration des Systems, bspw. mit einem flexiblen 6-Segment-Detektor oder einem hochempfindlichen Szintillator-Detektor.
- Zu den Live-Funktionen gehören Live-EDX-Analysen und Live-EDX-Mappings.
- Vollständige Integration des JEOL-EDX-Systems inkl. Live-EDX für maximalen Bedienkomfort und intuitive Berichterstellung aller aufgenommenen Messdaten möglich. Neben herkömmlichen EDX-Detektoren mit Fenster bietet JEOL auch einen eigenen, geometrie-optimierten und fensterlosen EDX-Detektor („Gather-X“) für Analysen leichter Elemente und Mappings bei hoher Geschwindigkeit an.
- Für die Untersuchung nicht-leitfähiger Materialien steht ein flexibles Niedervakuumsystem auf Knopfdruck zur Verfügung.
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JSM-IT800is Rasterelektronenmikroskop
Das Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop JSM-IT800is vereint in einzigartiger Weise höchste Auflösung und Vielseitigkeit mit intuitivem Handling und weitgehender Automatisierung. Somit steckt das JSM-IT800is gleichermaßen einen breiten Anwendungs-bereich ab und ermöglicht den einfachen Einstieg in die Welt der höchstauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie.
Merkmale
- Extrem schnelle Analytik durch hohen Probenstrom ≥ 300 nA
- Höchste Stabilität und einen kontinuierlich regelbaren Strom durch die In-lens Schottky Plus Feldemissions-Elektronenquelle und die Doppel-Kondensorlinsen-System.
- Schnelle Übergänge zwischen unterschiedlichen Betriebszuständen durch die neue "NeoEngine" und der verbesserten Autofunktionen
- Extreme Schärfentiefe und verzerrungsfreie Abbildung großer Probenstrukturen durch einzigartige Linsenoptik.
- Stufenloser Übergang zwischen lichtoptischer und REM-Abbildung für einfachste Probennavigation durch die
JEOL ZeroMag-Funktion. - Neue Rückstreuelektronendetektoren ermöglichen die maßgeschneiderte, applikationsoptimierte Konfiguration des Systems, bspw. mit einem flexiblen 6-Segment-Detektor oder einem hochempfindlichen Szintillator-Detektor.
- Zu den Live-Funktionen gehören Live-EDX-Analysen und Live-EDX-Mappings.
- Vollständige Integration des JEOL-EDX-Systems inkl. Live-EDX für maximalen Bedienkomfort und intuitive Berichterstellung aller aufgenommenen Messdaten möglich.
- Für die Untersuchung nicht-leitfähiger Materialien steht ein flexibles Niedervakuumsystem auf Knopfdruck zur Verfügung.
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JCM-7000 Tabletop-Rasterelektronenmikroskop
Intuitiv bedienbares Rasterelektronenmikroskop mit vollständig Hard- und Software-integriertem EDX-System und Niedervakuummodus.
Merkmale
Der ideale Allrounder auch für nicht-leitfähige Proben:
- „Live 3D“: REM-Bild und rekonstruiertes 3D-Oberflächenbild in Echtzeit. Diese Funktion ermöglicht, topografische Informationen und Tiefeninformationen von Proben zusammen mit REM-Bildinformationen der Probenoberflächen zu erfassen.
- Vollwertige Elektronenoptik: Vergrößerung bis x100.000 und einfacher Kathodenaustausch durch vorzentrierte Wolfram-Filamente.
- Die automatische Einstellung der Betriebsparameter, basierend auf Probentyp und Fragestellung, bietet hochwertige Ergebnisse und verbessert die Effizienz.
- JEOL ZeroMag-Funktion: Stufenloser Übergang zwischen licht- und elektronenoptischer Abbildung für einfachste Probennavigation.
- Vollständige Integration des JEOL-EDX-Systems inkl. Live-EDX für maximalen Bedienkomfort und intuitive Berichterstellung aller aufgenommenen Messdaten.
- Voll-automatisierte Aufnahmen von REM-Abbildungen und Elementverteilungsbildern für hochaufgelöste Übersichtsmontagen.
- Für die Untersuchung nichtleitender Materialien steht ein auf Knopfdruck zuschaltbares Niedervakuumsystem zur Verfügung.
- Große Kammer für Proben bis 80mm Durchmesser und 50mm Höhe.
- Einfache Installation – Eine Steckdose reicht für den Betrieb vollkommen aus!
- Kompakte Bauform für den mobilen REM-Einsatz.
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IB-19530CP Präparationstool
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
Merkmale
Arbeitserleichterung in der Probenvorbereitung:
- Hoher Durchsatz durch Hochgeschwindigkeits-Ionenquelle und Auto-Start-Funktion
- Automatische Bearbeitungsprogramme: High-Speed-Milling und Finishing, Intermitted-Milling
- Einfacher Probeneinbau durch innovatives Halterkonzept
- Multifunktionsbühne zur Erstellung von Querschliffen, Oberflächenpolitur eingebetteter Proben, Tiefenprofilierung,
Sputter-Coating - Langlebige Hochleistungsblende
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